AMETEK SAS

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Division SPECTRO
ROND POINT EPINE DES CHAMPS
BUROPLUS BAT D
78990 ELANCOURT

AMETEK SAS

Adhérent présent à
Forum LABO LYON 2020

Fondée en 1979, SPECTRO a une expérience éprouvée en tant qu'innovateur de premier plan des technologies Arc/Spark-OES, ICP-OES et Fluorescence X

SPECTRO est l'un des principaux fournisseurs d'instruments de fluorescence X (XRF), ICP-OES et Arc/Etincelle-OES pour la science et l'industrie. Les spectromètres stationnaires, mobiles et portatifs sont utilisés pour des tâches d'analyse élémentaire diverses dans les domaines du contrôle des processus, du QC entrant/sortant, de l’analyse sur site, de la recherche, de l'assainissement, de l'évaluation et des essais de conformité.

Analyseurs stationnaires de métaux (Arc/Spark-OES)

Analyse élémentaire répétable et précise de tous les types de métaux pour le contrôle des procédés et le QC entrant/sortant

Analyseurs mobiles de métaux (Arc/Spark-OES)

Analyse rapide et fiable sur site, identification positive des matériaux (PMI), vérification des alliages et tri par lots des métaux et des alliages métalliques

Analyseurs XRF portatifs

La portabilité ultime, idéal pour l'analyse et le tri des métaux, le contrôle de conformité, l'analyse environnementale et les applications minières

Spectromètres d'émission optique à couplage inductif (ICP-OES/ICP-AES)

Pour l’analyse élémentaire du ppb aux % des liquides et des boues. Productivité extrême avec analyse automatisée et sans surveillance de lots importants d'échantillons. De l'investigation académique à la conformité environnementale, en passant par la recherche et le contrôle des processus pour un large éventail d’industries.

 

Le SPECTROGREEN : le spectromètre d’émission optique à plasma inductif couplé (ICP-OES) avec la nouvelle technologie révolutionnaire Dual Side-On Interface (DSOI)

  • Nouvelle technologie révolutionnaire Dual Side-On Interface (DSOI) qui atteint deux fois la sensibilité des instruments conventionnels de vision radiale du plasma
  • Nouveau système de lecture GigE qui permet le transport des spectres en moins de 100 ms pour des vitesses d’analyse plus rapides, des temps d’acquisition plus courts et plus d’échantillons par heure
  • Extrêmement agile, générateur LDMOS qui rend le refroidissement externe inutile: analyser les matrices d’échantillons difficiles dans des dilutions plus basses pour des limites de détection plus basses — un temps de stabilisation plus rapide (10 minutes) pour une productivité plus élevée
  • Le nouveau logiciel d’exploitation SPECTRO ICP Analyzer Pro offre une facilité d’utilisation tout simplement intuitive

 

Le SPECTRO ARCOS :
Le SPECTRO ARCOS ICP-OES excelle dans les applications industrielles et académiques pour l'analyse élémentaire la plus avancée des métaux, des produits chimiques, des produits pétrochimiques et d'autres matériaux. Sa nouvelle option unique d'interface plasma MultiView offre une observation du plasma axiale et radiale vraiment sans compromis dans un seul instrument. Le mécanisme MultiView sans périscope permet à un opérateur de littéralement « transformer » un instrument de vue radiale en un dispositif de vue axiale ou  vice-versa,  en  90  secondes  ou  moins.

Le SPECTRO XEPOS :
Le spectromètre SPECTRO  XEPOS  représente  un bond en avant  dans la technologie de fluorescence des rayons X  dispersive en énergie.   Il correspond à la nouvelle génération d'instruments ED-XRF de SPECTRO, offrant des avancées révolutionnaires dans l'analyse multi-élémentaire  des éléments majeurs, mineurs et des éléments en concentrations traces. Les nouveaux développements en matière d'excitation et de détection offrent des limites exceptionnelles de sensibilité et de détection, ce qui donne des gains remarquables en répétabilité et en précision

Le SPECTROCUBE :

Les nouveaux analyseurs  SPECTROCUBE  ED-XRF  offrent une analyse  facile,  fiable, précise et à haut débit  pour  une  variété  de demandes, par ex. analyse de métaux précieux, conformité dépistage ou analyse de carburants et d'huiles de lubrifiant.


AMETEK SAS a choisi ses mots clés en lien avec son activité :

* absorption atomique - atomic absorption
* accessoire pour fluorescence x - accessorie X-ray fluorescence
* accessoire pour ICP / ICP MS - ICP / ICP-MS accessorie
* analyse élémentaire - elemental analysis
* analyse de l'eau - water analysis
* analyse de phosphate - phosphate analysis
* analyse de surface - analysis of material surface
* analyse de trace - analysis of trace element
* analyse des sols - analysis of soils
* analyse en ligne - continuous analysis
* analyse graisses - grease analysis
* analyse métaux - analysis of metals
* analyse physico chimique de l'eau - physical and chemical analysis of water
* analyses pétrolières - analysis of petrol products
* étalon de calibration - calibration standard
* consommable de fluorescence X - consumable for X-Ray fluorescence
* fluorescence x - X-Ray fluorescence
* formation spectrometrie ICP / AA - AA / ICP spectrometry (training)
* métal (analyse) - metal (analysis)
* nébuliseur - nebulizer
* spectrométrie d'absorption atomique - AA spectrometry
* spectrométrie d'émission - emission spectrometry
* spectrométrie ICP et ICP/MS - ICP, ICP-MS spectrometry
* spectrométrie X - X-ray spectrometry
* surface (analyse) - surface (analysis)
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OCTOBRE 2017 A vos agendas : 14 Novembre 2017 – Espace CETIM de Senlis TECHDAY METROLOGIE DU FUTUR - La métrologie au service de l’industrie 4.0

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