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AMETEK SAS

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Division SPECTRO
ROND POINT EPINE DES CHAMPS
BUROPLUS BAT D
78990 ELANCOURT
FRANCE
telephone : +33(0)1 30 68 89 70
fax : +33(0)1 30 68 89 99
web : www.spectro.com/
Adhérent présent à
Forum LABO LYON 2020
 

Fondée en 1979, SPECTRO a une expérience éprouvée en tant qu'innovateur de premier plan des technologies Arc/Spark-OES, ICP-OES et Fluorescence X

SPECTRO est l'un des principaux fournisseurs d'instruments de fluorescence X (XRF), ICP-OES et Arc/Etincelle-OES pour la science et l'industrie. Les spectromètres stationnaires, mobiles et portatifs sont utilisés pour des tâches d'analyse élémentaire diverses dans les domaines du contrôle des processus, du QC entrant/sortant, de l’analyse sur site, de la recherche, de l'assainissement, de l'évaluation et des essais de conformité.

Analyseurs stationnaires de métaux (Arc/Spark-OES)

Analyse élémentaire répétable et précise de tous les types de métaux pour le contrôle des procédés et le QC entrant/sortant

Analyseurs mobiles de métaux (Arc/Spark-OES)

Analyse rapide et fiable sur site, identification positive des matériaux (PMI), vérification des alliages et tri par lots des métaux et des alliages métalliques

Analyseurs XRF portatifs

La portabilité ultime, idéal pour l'analyse et le tri des métaux, le contrôle de conformité, l'analyse environnementale et les applications minières

Spectromètres d'émission optique à couplage inductif (ICP-OES/ICP-AES)

Pour l’analyse élémentaire du ppb aux % des liquides et des boues. Productivité extrême avec analyse automatisée et sans surveillance de lots importants d'échantillons. De l'investigation académique à la conformité environnementale, en passant par la recherche et le contrôle des processus pour un large éventail d’industries.

 

Le SPECTROGREEN : le spectromètre d’émission optique à plasma inductif couplé (ICP-OES) avec la nouvelle technologie révolutionnaire Dual Side-On Interface (DSOI)

  • Nouvelle technologie révolutionnaire Dual Side-On Interface (DSOI) qui atteint deux fois la sensibilité des instruments conventionnels de vision radiale du plasma
  • Nouveau système de lecture GigE qui permet le transport des spectres en moins de 100 ms pour des vitesses d’analyse plus rapides, des temps d’acquisition plus courts et plus d’échantillons par heure
  • Extrêmement agile, générateur LDMOS qui rend le refroidissement externe inutile: analyser les matrices d’échantillons difficiles dans des dilutions plus basses pour des limites de détection plus basses — un temps de stabilisation plus rapide (10 minutes) pour une productivité plus élevée
  • Le nouveau logiciel d’exploitation SPECTRO ICP Analyzer Pro offre une facilité d’utilisation tout simplement intuitive

 

Le SPECTRO ARCOS :
Le SPECTRO ARCOS ICP-OES excelle dans les applications industrielles et académiques pour l'analyse élémentaire la plus avancée des métaux, des produits chimiques, des produits pétrochimiques et d'autres matériaux. Sa nouvelle option unique d'interface plasma MultiView offre une observation du plasma axiale et radiale vraiment sans compromis dans un seul instrument. Le mécanisme MultiView sans périscope permet à un opérateur de littéralement « transformer » un instrument de vue radiale en un dispositif de vue axiale ou  vice-versa,  en  90  secondes  ou  moins.

Le SPECTRO XEPOS :
Le spectromètre SPECTRO  XEPOS  représente  un bond en avant  dans la technologie de fluorescence des rayons X  dispersive en énergie.   Il correspond à la nouvelle génération d'instruments ED-XRF de SPECTRO, offrant des avancées révolutionnaires dans l'analyse multi-élémentaire  des éléments majeurs, mineurs et des éléments en concentrations traces. Les nouveaux développements en matière d'excitation et de détection offrent des limites exceptionnelles de sensibilité et de détection, ce qui donne des gains remarquables en répétabilité et en précision

Le SPECTROCUBE :

Les nouveaux analyseurs  SPECTROCUBE  ED-XRF  offrent une analyse  facile,  fiable, précise et à haut débit  pour  une  variété  de demandes, par ex. analyse de métaux précieux, conformité dépistage ou analyse de carburants et d'huiles de lubrifiant.

 
Contact(s) :
Pour un devis, un délai, une commande, une question comptable : Mme Christel LELAIT
Pour une question d'ordre technique, une question de SAV, une formation, une prestation : Mme Marie-Chantal STUCKI



Horaires et jours d'ouverture :
du lundi au vendredi 8h30 - 17h30



La nomenclature de
AMETEK SAS :

absorption atomique - atomic absorption
accessoires pour fluorescence x - accessories X-ray fluorescence
accessoires pour ICP / ICP MS (nébuliseurs) - ICP / ICP-MS accessories (nebulizers)
analyse élémentaire - elemental analysis
analyse de l'eau - water analysis
analyse de phosphate - phosphate analysis
analyse de surface - analysis of material surface
analyse de traces - analysis of trace elements
analyse des sols - analysis of soils
analyse en ligne - continuous analysis
analyse graisses - grease analysis
analyse métaux - analysis of metals
analyse physico chimique de l'eau - physical and chemical analysis of water
analyses pétrolières - analysis of petrol products
étalons de calibration - calibration standards
consommables de fluorescence X - consumables for X-Ray fluorescence
fluorescence x - X-Ray fluorescence
formations spectrometrie ICP / AA - AA / ICP spectrometry (training)
métaux (analyse) - metals (analysis)
spectrométrie d absorption atomique - AA spectrometry
spectrométrie d émission - emission spectrometry
spectrométrie ICP et ICP/MS - ICP, ICP-MS spectrometry
spectrométrie X - X-ray spectrometry
surface (analyse) - surface (analysis)

Articles publiés dans La gazette du laboratoire

OCTOBRE 2017 A vos agendas : 14 Novembre 2017 – Espace CETIM de Senlis TECHDAY METROLOGIE DU FUTUR - La métrologie au service de l’industrie 4.0


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Contacts :
Pour un devis, un délai, une commande, une question comptable : Mme Christel LELAIT
Pour une question d'ordre technique, une question de SAV, une formation, une prestation : Mme Marie-Chantal STUCKI

Contacter la société
en cliquant ici 

Fondée en 1979, SPECTRO a une expérience éprouvée en tant qu'innovateur de premier plan des technologies Arc/Spark-OES, ICP-OES et Fluorescence X

SPECTRO est l'un des principaux fournisseurs d'instruments de fluorescence X (XRF), ICP-OES et Arc/Etincelle-OES pour la science et l'industrie. Les spectromètres stationnaires, mobiles et portatifs sont utilisés pour des tâches d'analyse élémentaire diverses dans les domaines du contrôle des processus, du QC entrant/sortant, de l’analyse sur site, de la recherche, de l'assainissement, de l'évaluation et des essais de conformité.

Analyseurs stationnaires de métaux (Arc/Spark-OES)

Analyse élémentaire répétable et précise de tous les types de métaux pour le contrôle des procédés et le QC entrant/sortant

Analyseurs mobiles de métaux (Arc/Spark-OES)

Analyse rapide et fiable sur site, identification positive des matériaux (PMI), vérification des alliages et tri par lots des métaux et des alliages métalliques

Analyseurs XRF portatifs

La portabilité ultime, idéal pour l'analyse et le tri des métaux, le contrôle de conformité, l'analyse environnementale et les applications minières

Spectromètres d'émission optique à couplage inductif (ICP-OES/ICP-AES)

Pour l’analyse élémentaire du ppb aux % des liquides et des boues. Productivité extrême avec analyse automatisée et sans surveillance de lots importants d'échantillons. De l'investigation académique à la conformité environnementale, en passant par la recherche et le contrôle des processus pour un large éventail d’industries.

 

Le SPECTROGREEN : le spectromètre d’émission optique à plasma inductif couplé (ICP-OES) avec la nouvelle technologie révolutionnaire Dual Side-On Interface (DSOI)

  • Nouvelle technologie révolutionnaire Dual Side-On Interface (DSOI) qui atteint deux fois la sensibilité des instruments conventionnels de vision radiale du plasma
  • Nouveau système de lecture GigE qui permet le transport des spectres en moins de 100 ms pour des vitesses d’analyse plus rapides, des temps d’acquisition plus courts et plus d’échantillons par heure
  • Extrêmement agile, générateur LDMOS qui rend le refroidissement externe inutile: analyser les matrices d’échantillons difficiles dans des dilutions plus basses pour des limites de détection plus basses — un temps de stabilisation plus rapide (10 minutes) pour une productivité plus élevée
  • Le nouveau logiciel d’exploitation SPECTRO ICP Analyzer Pro offre une facilité d’utilisation tout simplement intuitive

Le SPECTRO ARCOS :
Le SPECTRO ARCOS ICP-OES excelle dans les applications industrielles et académiques pour l'analyse élémentaire la plus avancée des métaux, des produits chimiques, des produits pétrochimiques et d'autres matériaux. Sa nouvelle option unique d'interface plasma MultiView offre une observation du plasma axiale et radiale vraiment sans compromis dans un seul instrument. Le mécanisme MultiView sans périscope permet à un opérateur de littéralement « transformer » un instrument de vue radiale en un dispositif de vue axiale ou  vice-versa,  en  90  secondes  ou  moins.

Le SPECTRO XEPOS :
Le spectromètre SPECTRO  XEPOS  représente  un bond en avant  dans la technologie de fluorescence des rayons X  dispersive en énergie.   Il correspond à la nouvelle génération d'instruments ED-XRF de SPECTRO, offrant des avancées révolutionnaires dans l'analyse multi-élémentaire  des éléments majeurs, mineurs et des éléments en concentrations traces. Les nouveaux développements en matière d'excitation et de détection offrent des limites exceptionnelles de sensibilité et de détection, ce qui donne des gains remarquables en répétabilité et en précision

Le SPECTROCUBE :

Les nouveaux analyseurs  SPECTROCUBE  ED-XRF  offrent une analyse  facile,  fiable, précise et à haut débit  pour  une  variété  de demandes, par ex. analyse de métaux précieux, conformité dépistage ou analyse de carburants et d'huiles de lubrifiant.

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